En profitant d'un phénomène connu sous le nom de "compression mécanique quantique, " les chercheurs ont conçu conceptuellement une nouvelle méthode d'application de la microscopie à force atomique. Ali Passian du Laboratoire national d'Oak Ridge et George Siopsis de l'Université du Tennessee ont présenté une nouvelle méthode de mesure dans un article publié dans Examen physique A .

La technique, qu'ils ont nommé microscopie à force atomique quantique, a le potentiel d'augmenter considérablement la résolution de l'AFM. La méthode profite des fines interactions entre la sonde du microscope et la surface de l'échantillon pour trouver le "sweet spot" où les effets quantiques stabilisent la sonde, résultant en des mesures plus sensibles.

"C'est la prédiction théorique de cet effet, " dit Passian. " Bien sûr, les expériences auront le dernier mot sur ce que nous pouvons faire de mieux, mais le concept de base et la théorie sont viables."