Loi de Bragg:
La loi de Bragg indique que lorsque les rayons X sont incidents sur un cristal, ils seront diffractés (dispersés) à des angles spécifiques qui dépendent de la longueur d'onde des rayons X et de l'espacement entre les plans des atomes dans le cristal. Cette relation est exprimée par l'équation suivante:
nλ =2d sin θ
où:
* n est un entier (1, 2, 3, ...) représentant l'ordre de la diffraction.
* λ est la longueur d'onde des rayons X.
* d est l'espacement entre les plans cristallins.
* θ est l'angle de diffraction.
Méthode de poudre de diffraction:
Dans une méthode de poudre de diffraction, un échantillon de poudre fin du matériau est utilisé. La poudre contient des cristallites orientées au hasard. Lorsque les rayons X sont brillants sur la poudre, les cristallites dispersent les rayons X à différents angles en fonction de leurs orientations.
Explication des lignes:
* Interférence constructive: Lorsque les rayons X diffractés à partir de différentes cristallites interfèrent de manière constructive (c'est-à-dire que leurs ondes se renforcent mutuellement), un pic de diffraction est observé. Cette interférence constructive se produit lorsque la différence de chemin entre les rayons X diffractée à partir de deux plans adjacents est un multiple intégral de la longueur d'onde (tel que défini par la loi de Bragg).
* angle et espacement: L'angle auquel un pic se produit est directement lié à l'espacement entre les plans cristallins (d) selon la loi de Bragg.
* Intensité: L'intensité d'un pic est proportionnelle au nombre de plans avec cet espacement spécifique. Plus d'avions avec cet espacement conduiront à un pic plus intense.
* empreinte digitale unique: Chaque matériau a un arrangement unique d'atomes et donc un ensemble unique d'espacements interplanaires (D). Il en résulte un motif de diffraction unique, comme une empreinte digitale, qui peut être utilisée pour identifier le matériau.
Résumé:
En substance, les lignes d'une méthode de poudre de diffraction représentent les angles auxquels l'interférence constructive des rayons X se produit en raison de l'espacement spécifique entre les plans des atomes dans le matériau. Chaque ligne correspond à un ensemble unique de plans cristallins et à leur espacement, fournissant ainsi une empreinte digitale de la structure cristalline du matériau.
