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  • Des chercheurs démontrent un transfert de chaleur radiatif amélioré pour les nanodispositifs
    Plateforme expérimentale permettant de sonder le transfert de chaleur radiatif. ( a ) Schéma de deux microplaques de Si suspendues par des poutres de 706 µm de long et montées sur un étage de chauffage contrôlant leur température. (b) Schéma des plaques chaudes et froides recouvertes de SiO2 nanocouches et séparées par un espace sous vide g=10,7μm . Image au microscope électronique à balayage du dispositif (c) et (d) son gros plan sur la boîte rectangulaire en (c). Crédit :Lettres d'examen physique (2024). DOI :10.1103/PhysRevLett.132.186904

    Des chercheurs japonais ont travaillé dur pour rester au frais – ou du moins – pour empêcher leurs nanodispositifs de surchauffer. En ajoutant une minuscule couche de dioxyde de silicium à des structures de silicium de taille micrométrique, ils ont pu montrer une augmentation significative du taux de chaleur dissipée. Ce travail pourrait conduire à des appareils électroniques plus petits et moins chers, pouvant contenir davantage de microcircuits.



    Alors que l'électronique grand public devient de plus en plus compacte, tout en bénéficiant d'une puissance de traitement accrue, la nécessité de gérer la chaleur perdue des microcircuits est devenue une préoccupation majeure.

    Certains instruments scientifiques et machines à l'échelle nanométrique nécessitent un examen attentif de la manière dont la chaleur localisée sera évacuée de l'appareil afin d'éviter tout dommage.

    Un certain refroidissement se produit lorsque la chaleur est rayonnée sous forme d'ondes électromagnétiques, de la même manière que la puissance du soleil atteint la Terre à travers le vide de l'espace. Cependant, le taux de transfert d'énergie peut être trop lent pour protéger les performances des circuits électroniques intégrés sensibles et densément emballés.

    Pour que la prochaine génération d'appareils soit développée, de nouvelles approches devront peut-être être établies pour résoudre ce problème de transmission de chaleur.

    Dans une étude récemment publiée dans la revue Physical Review Letters , des chercheurs de l'Institut des sciences industrielles de l'Université de Tokyo, ont montré comment le taux de transfert de chaleur radiatif peut être doublé entre deux plaques de silicium à micro-échelle séparées par un minuscule espace.

    La clé consistait à utiliser un revêtement de dioxyde de silicium qui créait un couplage entre les vibrations thermiques de la plaque à la surface (appelées phonons) et les photons (qui constituent le rayonnement).

    "Nous avons pu montrer théoriquement et expérimentalement comment les ondes électromagnétiques étaient excitées à l'interface de la couche d'oxyde, ce qui augmentait le taux de transfert de chaleur", explique l'auteur principal de l'étude, Saeko Tachikawa.

    La petite taille des couches par rapport aux longueurs d'onde de l'énergie électromagnétique et leur fixation sur la plaque de silicium, qui transporte l'énergie sans perte, ont permis à l'appareil de dépasser les limites normales de transfert de chaleur et ainsi de refroidir plus rapidement.

    La microélectronique actuelle étant déjà basée sur le silicium, les résultats de cette recherche pourraient être facilement intégrés dans les futures générations de dispositifs semi-conducteurs.

    "Nos travaux donnent un aperçu des stratégies possibles de gestion de la dissipation thermique dans l'industrie des semi-conducteurs, ainsi que dans divers autres domaines connexes tels que la fabrication nanotechnologique", explique l'auteur principal, Masahiro Nomura.

    La recherche contribue également à établir une meilleure compréhension fondamentale du fonctionnement du transfert de chaleur à l'échelle nanométrique, puisqu'il s'agit toujours d'un domaine de recherche actif.

    Plus d'informations : Saeko Tachikawa et al, Rayonnement thermique en champ lointain amélioré via un guide d'ondes polaritonique, Physical Review Letters (2024). DOI : 10.1103/PhysRevLett.132.186904

    Informations sur le journal : Lettres d'examen physique

    Fourni par l'Université de Tokyo




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