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  • Des aiguilles invisibles spécialisées nous font voir des surfaces à l'échelle nanométrique

    Nous attendons de nos appareils électroniques, tels que les téléphones portables et les ordinateurs, fonctionner correctement et devenir encore meilleur avec le temps et penser rarement aux innovations étonnantes qui rendent cela possible. Les scientifiques développent un réseau en porte-à-faux qui peut avoir un impact important sur la synthèse et l'analyse des nanostructures, ce qui peut améliorer le contrôle qualité des objectifs des caméras des téléphones portables.

    Un cantilever est une aiguille unique très fine actuellement utilisée pour le contrôle qualité à l'échelle nanométrique, mais pour améliorer et accélérer le processus, les scientifiques développent une gamme d'aiguilles, un tableau en porte-à-faux, fonctionnant simultanément. À l'exception de la détection de défauts sur les micropuces, cette matrice pourrait profiter à l'industrie optique en améliorant le contrôle qualité des objectifs des caméras des téléphones portables.

    Les chercheurs utilisent des sondes de proximité à balayage (SPP) pour analyser la qualité des appareils électroniques en balayant la surface de leurs composants au niveau atomique. Présentement, des sondes simples sont utilisées et la vitesse de balayage est très lente. Chaque sonde, un porte-à-faux constitué d'une aiguille en silicone spécialisée de quelques microns de large et invisible à l'œil nu, vibre lors du passage sur une surface. Ces vibrations sont transformées en signaux électriques puis interprétées par un ordinateur qui crée un scan en trois dimensions. De cette façon, les chercheurs peuvent voir à quoi ressemble une certaine surface en détail. Sans ces types de nano-outils sensibles, il serait impossible de voir si tous les composants nanométriques étaient au bon endroit et la qualité serait donc moins bonne. La limitation de la taille de la zone de balayage et de la vitesse de balayage a été la résonance mécanique des nano-outils SPP fréquences.

    Pour augmenter la vitesse de balayage et analyser de plus grandes surfaces, des chercheurs allemands, Pologne, Suède, la Grande-Bretagne, Slovaquie, Bulgarie, La Suisse et la France ont uni leurs forces dans le projet PRONANO financé par la Commission européenne - Actes du projet intégré sur les plates-formes de sonde en porte-à-faux massivement parallèles pour l'analyse et la synthèse à l'échelle nanométrique. Ils développent un réseau en porte-à-faux pour un fonctionnement parallèle qui peut avoir un impact important sur la synthèse et l'analyse des nanostructures.

    Les cantilevers ne sont pas seulement utilisés pour l'analyse de surface mais pour la nanolithographie, contrôle des dimensions critiques et stockage des données. Le réseau en porte-à-faux PRONANO pourrait également profiter à des domaines tels que l'industrie optique, où il s'est avéré capable de détecter les défauts de certains types de verres dix fois plus rapidement que la technologie utilisée aujourd'hui, ce qui pourrait augmenter la production de cette industrie.

    Lorsque ce réseau en porte-à-faux atteint le marché, il peut améliorer les performances et réduire le prix des ordinateurs et des téléphones portables, ainsi que d'améliorer le contrôle qualité des objectifs pour les appareils photo des téléphones portables. En outre, lorsque des produits défectueux sont trouvés et jetés plus tôt dans le processus de production, cela pourrait signifier que ce nouveau réseau en porte-à-faux devient une alternative beaucoup plus respectueuse de l'environnement. Cependant, cela dépend par exemple de la procédure de production du réseau en porte-à-faux.


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