(Phys.org) - Une équipe de chercheurs composée de membres de l'Université de Stanford et de plusieurs institutions en Chine prétend avoir trouvé un moyen de créer un échantillon de stanène - un maillage d'un atome d'épaisseur (nid d'abeilles bouclé) d'étain que les théories ont prédit pourrait être utilisé pour conduire l'électricité sans aucune perte due à la chaleur. Dans leur article publié dans la revue Matériaux naturels, l'équipe décrit le processus qu'ils ont utilisé pour créer leur échantillon et les problèmes qu'ils ont rencontrés en essayant de tester sa conductivité.

Le graphène a fait les manchettes ces derniers temps, comme les scientifiques lui ont trouvé de nombreuses utilisations, les feuilles de carbone d'une épaisseur d'un atome ont d'excellentes propriétés électriques (et autres). Mais même si les recherches sur le graphène se poursuivent, d'autres scientifiques ont cherché un moyen de créer du stanène (qui aurait pu exister il y a seulement deux ans) car on pense qu'il pourrait être utilisé pour améliorer considérablement le processus d'utilisation de l'électricité dans l'électronique. électrons, on pense qu'il pourrait traverser le matériau à température ambiante sans heurter d'autres électrons, comme cela se produit avec d'autres matériaux, provoquant des vibrations, entraînant de la chaleur et une perte d'énergie du milieu. Avec du stanène, les électrons se déplaceraient uniquement le long des bords du maillage - il ne pourrait pas pénétrer au centre en raison des propriétés de spin quantique - ce qui en ferait un isolant topologique. Si les théories sur le stanène s'avèrent vraies, des fils pourraient être fabriqués qui transporteraient l'électricité sur de grandes distances d'une source à une destination sans pertes d'énergie, par exemple, ou les téléphones et leurs chargeurs pourraient fonctionner sans chauffer.

Pour faire leur échantillon, les chercheurs ont vaporisé un peu d'étain à l'intérieur d'une chambre à vide, ce qui lui a permis de former son maillage caractéristique sur une surface de tellurure de bismuth. L'équipe n'a pu voir que les crêtes supérieures de la structure avec un microscope à effet tunnel, cependant et je pense que le substrat a interagi avec le maillage, empêchant les tests de conductivité. Afin d'avoir une meilleure vue, l'équipe reconnaît qu'elle devra créer un échantillon plus important. D'autres ont déjà suggéré qu'il serait possible de confirmer la structure du matériau en utilisant la diffraction des rayons X.

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