(Phys.org) - Les propriétés remarquables et les applications ultérieures du graphène ont été bien documentées depuis qu'il a été isolé pour la première fois en 2004; cependant, les chercheurs essaient toujours de trouver un moyen rapide, moyen bon marché et efficace de mesurer son épaisseur.

Un groupe de chercheurs chinois semble avoir résolu ce problème en concevant une méthode universelle utilisant uniquement un microscope optique standard.

Dans une étude publiée aujourd'hui, 16 novembre 2012, dans la revue IOP Publishing Nanotechnologie , ils ont montré que l'épaisseur de graphène, avec une foule d'autres matériaux bidimensionnels, peut être obtenu en mesurant le rouge, composantes vertes et bleues de la lumière lorsqu'elles sont réfléchies par la surface du matériau.

L'étude montre que le contraste du rouge, les valeurs vertes et bleues entre le substrat sur lequel l'échantillon est placé et l'échantillon lui-même augmentent avec l'épaisseur de l'échantillon.

La méthode est rapide, facile à utiliser et ne nécessite aucun équipement coûteux.

Les chercheurs, du Harbin Institute of Technology de Weihai et de l'Université du Sud-Est, pensent qu'il s'agit d'une contribution significative à la recherche fondamentale et aux applications potentielles des matériaux, comme le graphène, car bon nombre de leurs propriétés remarquables dépendent de l'épaisseur du matériau lui-même.

"Autrefois, les méthodes d'identification de l'épaisseur de matériaux bidimensionnels ont été très coûteuses et ont eu un débit lent. Notre technique combine un microscope commun avec un simple logiciel, ce qui en fait un très rapide, moyen bon marché et efficace de mesurer l'épaisseur, " a déclaré le co-auteur de l'étude, le professeur Zhenhua Ni.

Les chercheurs ont testé leur méthode en examinant le graphène exfolié mécaniquement, oxyde de graphène, graphène dopé à l'azote et disulfure de molybdène, qui ont tous suscité un grand intérêt en raison de leur intrigante électrique, mécanique, propriétés thermiques et optiques.

Un microscope optique standard a été utilisé pour obtenir des images optiques des échantillons et un logiciel appelé Matlab a été utilisé pour lire le rouge, valeurs vertes et bleues à chaque pixel de l'image optique.

La spectroscopie Raman et la microscopie à force atomique ont été utilisées pour confirmer les mesures d'épaisseur des chercheurs.