(Phys.org) —Un scientifique de l'Université de Warwick a conçu une nouvelle méthode pour améliorer la mesure des surfaces des composants essentiels pour une utilisation dans des applications de haute précision et de nanotechnologie.

Avec l'exigence de performances toujours plus élevées de pièces de plus en plus petites, l'accent doit être mis sur leurs surfaces afin de produire des produits à haute valeur ajoutée.

Deux conséquences émergentes sont l'utilisation de motifs et de structures sur les surfaces, et formes complexes, qui doivent tous être rigoureusement contrôlés afin d'optimiser des domaines tels que la lubrification, adhérence et performances optiques.

La clé de ces améliorations est la mesure de ces surfaces afin de fabriquer avec une grande précision avec un minimum de défauts - un gros problème pour les techniques de mesure traditionnelles.

Une nouvelle idée conçue par le professeur David Whitehouse de la School of Engineering promet d'être un premier pas vers la résolution de ces nouveaux problèmes de mesure.

Il a mis au point une technique basée sur le filtrage gaussien, mais ayant un nouveau stratagème mathématique qui est décrit dans les Actes de la Royal Society. La technique est similaire à l'analyse d'images, sauf qu'elle prend en compte la géométrie plutôt que les variations d'intensité.

Il a déclaré : « sa technique améliore les caractéristiques nettes qui sont intrinsèquement présentes sur les surfaces structurées de haute technologie telles que les bords, rainures et limites d'une manière qui permet de mieux déterminer leur géométrie détaillée et leur position que les méthodes précédentes. Il peut également faciliter la détection et la caractérisation des défauts sur les surfaces."

Applications de surface structurées et de forme libre sur une large gamme de tailles, par exemple dans l'optique, semi-conducteur, turbine et en nanotechnologie pourraient, si la méthode réalise son potentiel, bénéficier directement.