XRF et XRD sont deux techniques courantes de radiographie. Chacun a des avantages et des inconvénients à sa méthode spécifique de numérisation et de mesure. Bien que ces techniques aient de nombreuses applications, le XRF et le XRD sont principalement utilisés dans les industries scientifiques pour la mesure des composés. Le type de composé et sa structure moléculaire indiquent quelle technique sera la plus efficace.
Cristaux
La diffraction des rayons X sur poudre - ou XRD - est utilisée pour mesurer les composés cristallins et fournit une analyse quantitative et qualitative des composés cela ne peut pas être mesuré par d'autres moyens. En tirant une radiographie sur un composé, le XRD peut mesurer la diffraction du faisceau de différentes sections du composé. Cette mesure peut ensuite être utilisée pour comprendre la composition du composé au niveau atomique, car tous les composés diffractent le faisceau différemment. Les mesures XRD montrent la composition structurelle, le contenu et la taille des structures cristallines.
Métaux
La fluorescence X - ou XRF - est une technique utilisée pour mesurer le pourcentage de métaux dans des matrices inorganiques telles que XRF est un outil de recherche et développement particulièrement utile dans les industries de la construction. Cette technique est extrêmement utile pour déterminer la composition de ces matériaux, ce qui permet de développer des ciments et alliages de meilleure qualité.
Vitesse
Le XRF peut être exécuté assez rapidement. Une mesure XRF, qui mesure le métal dans l'échantillon donné, peut être configurée en moins d'une heure. L'analyse des résultats conserve également l'avantage d'être rapide, ne prenant généralement que 10 à 30 minutes pour se développer, ce qui contribue à l'utilité du XRF en recherche et développement.
Limites du XRF
Puisque les mesures du XRF reposent sur la quantité , il y a des limites aux mesures. La limite quantitative normale est de 10 à 20 ppm (parties par million), généralement les particules minimales requises pour une lecture précise.
Le XRF ne peut pas non plus être utilisé pour déterminer la teneur en béryllium, ce qui est un inconvénient distinct lors de la mesure alliages ou autres matériaux pouvant contenir du béryllium.
Limites XRD
XRD a également des limites de taille. Il est beaucoup plus précis pour mesurer de grandes structures cristallines plutôt que de petites. Les petites structures qui ne sont présentes qu'en quantités infimes ne sont souvent pas détectées par les lectures XRD, ce qui peut entraîner des résultats asymétriques.