Un microscope à force atomique (AFM) utilise un pointes tranchantes comme sonde pour la numérisation. Cette pointe est généralement faite d'un matériau dur comme le silicium ou le nitrure de silicium et est attaché à un cantilever, une petite poutre flexible.

Voici une ventilation de son fonctionnement:

* la pointe: La pointe est incroyablement tranchante, souvent avec un rayon de courbure de quelques nanomètres. Cela lui permet d'interagir avec les atomes individuels à la surface scannés.

* Le cantilever: Le cantilever est un petit faisceau qui vibre à une fréquence spécifique. La pointe est attachée à l'extrémité du cantilever.

* scanne: L'AFM scanne la surface en déplaçant la pointe à travers elle dans un motif raster.

* Interaction: Au fur et à mesure que la pointe répond à la surface, elle éprouve des forces (forces van der Waals, forces électrostatiques, etc.).

* Détection: Ces forces font que le cantilever se plie ou déviée. Cette déviation est détectée par un faisceau laser réfléchi sur l'arrière du cantilever sur un capteur.

* Formation d'image: Le capteur détecte les changements dans le faisceau laser réfléchi, qui sont ensuite utilisés pour construire une image de la surface.

La capacité de l'AFM à images des surfaces au niveau atomique est due à la pointe incroyablement pointue et à la sensibilité du cantilever et du système de détection.